OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取z终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。

该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，可探测到-80dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。

特点：

• 超高采样分辨率和定位精度

• 采样分辨率1 μm

• 回损测量范围-10 dB~90 dB

• 可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境

• 可定制扫描测量长度

• 支持多通道测量升级

  
  

应用：

• 光纤微裂纹检测

• 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测

• FA光纤阵列链路性能检测

• 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测

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