一、产品简介

浪涌电流测试仪，是二极管等相关半导体器件测试的重要检测设备，该设备具有如下特点：

1、该系统的测试控制采用自动控制，测试可按测试员设定的程序进行自动测试。

2、该系统采用计算机记录测试结果，并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理。

3、该套测试设备主要由以下几个单元组成：

a、浪涌测试单元

b、阻断参数测试单元

c、计算机控制系统

二、技术条件

2.1 环境要求：

1、环境温度：8—35℃

2、相对湿度：小于75%

3、大气压力：86Kpa—106Kpa

4、海拔高度：1000米以下

5、电网电压：AC220V±10%无严重谐波

6、电网频率：50Hz±1Hz

7、电源功率：小于5KW

8、供电电网功率因数：＞0.9

2.2主要技术指标：

2.2.1浪涌测试单元

a.通态不重复浪涌电流范围：30～2000A（可选到20000A），分辨率1A,精度＜2%±1

b.浪涌电流底宽： 10ms正弦半波，偏差小于±0.2ms（可选1mS.2mS.8.3mS等）

c. 重复浪涌电流时间（可设定）：2S～10S

d.浪涌电流重复次数：1～100次，可设定

e.浪涌电流下的压降测试(仅对正弦波，可选方波)

f.浪涌波形和压降波形显示和保存(仅对正弦波，可选方波)

g  10uS方波电流范围100-2000A，分辨率1A,精度＜3%±1（可选5000A）

2.2.2阻断测试

a.反向电压：100V～1800V可调

b.反向电压重复频率：DC直流

c.漏电流0.01～2mA，分辨率0.001mA,精度满量程的±5%

e.测试方式：自动测试；

g,适合封装：TO-220、TO-247、TO-3P

2.2.3加热功能（可选功能）：显示温度：0-180℃

控温范围：90-180℃

90-125℃  精度误差1.5%±1

125-150℃精度误差1%±1

150-180℃精度误差2%±1

三、功能概述

3.1测试范围

该套测试设备主要可测试以下器件：

封装：TO-220、TO-247、TO-3P，（其它封装可更换测试夹具工装或可用连线方式）

手动安装测试器件

3.2计算机控制系统

计算机控制系统是该设备的中心控制单元，设备的所有工作程序，工作时序，开关的动作状态，数据的采集等均由计算机完成。

计算机采用的是工业控制机，具有抗电磁ganraoneng力强，排风量大等特点。 上海半导体器件研发

四、面板说明

机柜尺寸：800*800*1800带操作台板