光学仪器
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半导体x射线检测设备
更新时间:2023-05-26 15:23 免费会员
上海喆图科学仪器有限公司
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    赛可(SEC)X-RAY设备X-eye6300Series简介:
    ●搭载自主研发·生产的0.8umFocalspotsize的HybridOpenTube,z小可检测出50微米的细微缺陷
    ●FOV3.5秒的高速(High)3DIn-line检测设备
    ●搭载自主研发·生产的HybridopenTube,减少维护费用,高(High)效率检测设备
    ●世界高水平的(Volumetric)检测,以In-line形态提供高(High)精度
    ●高可靠性的检测设备DetectorTit70°的结构,以z小化歪曲的ObliqueCT方式提供超高分辨率(High)的检测设备
    ●汽车电子、SMT、半导体领域的Non-wet、HIP、Short、Missing、Void等各种检测的检测设备
    赛可(SEC)X-RAY设备ln-lineAXlSystem适用于systemIndustry4.0和Smartfactory,具有行业z高的检测速度提高效率,并且通过AI智能检测算法精准的判定良品和不良品。
半导体x射线检测设备http://www.secengcn.com/Products-37438263.html
https://www.chem17.com/st560481/product_37438263.html 

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